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光伏/逆變器測(cè)試及自動(dòng)化解決方案

光伏逆變測(cè)試解決方案制冷芯片洪控制器自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

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致茂 51101 溫度/多功能記錄器

更新時(shí)間：2023-12-24

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致茂 Model 51101 溫度/多功能記錄器能精準(zhǔn)量測(cè)溫度、電壓、電流等基本物理量，無論一般應(yīng)用研發(fā)、量產(chǎn)、制程管理均能廣泛應(yīng)用于不同產(chǎn)業(yè)，所需的通道數(shù)可由單一通道至數(shù)百個(gè)通道，例如溫度爐需針對(duì)腔體不同位置確認(rèn)溫度的均勻性，確保有效完成烘烤過程；車用電池需個(gè)別量測(cè)池芯之電壓與溫度。
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致茂 7210光伏電池品質(zhì)檢查分色系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-12-24

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致茂 Model 7210光伏電池品質(zhì)檢查分色系統(tǒng)0在一臺(tái)檢測(cè)儀器之中，同時(shí)包含了顏色分色以及正面網(wǎng)印瑕疵的檢測(cè)功能。在二合一的架構(gòu)之下，車間空間的利用率可以更加提升。當(dāng)金屬柵線的印刷技術(shù)在光伏產(chǎn)業(yè)繼續(xù)演進(jìn)的同時(shí)，金屬柵線也變得越來越精細(xì) 。
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致茂 7214-D光伏電池片抗反射層鍍膜檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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Model 7214-D光伏電池片抗反射層鍍膜檢測(cè)機(jī)是用來檢查抗反色層鍍膜的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)機(jī)。由于4M的黑白攝像頭以及RGB光源設(shè)計(jì)，Chroma可以確保每一個(gè)抗反色層鍍膜的瑕疵都可以透過不同的光源與取像組成來檢測(cè)。 7214-D可以用來檢測(cè) : （1）色差瑕疵（2）棕色瑕疵（3）條狀水痕（4）顆粒（5）輸送帶痕（6）滴酸（7）迭片（8）缺角破片等。
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致茂 7213-AD光伏電池片臟污檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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光伏電池片的背面印刷瑕疵可能會(huì)造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的不良影響。在所有的背面印刷瑕疵之中，非正常絲網(wǎng)印刷過程所產(chǎn)生的鋁凸，將會(huì)在模組封裝過程之中造成*的破損率。致茂 Model 7213-AD光伏電池片臟污檢測(cè)機(jī)應(yīng)用了特殊光源設(shè)計(jì)來偵測(cè)常見的背面印刷瑕疵，甚至是鋁凸瑕疵。
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致茂7212-HS光伏電池片表面臟污檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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Model 7212-HS光伏電池片表面臟污檢測(cè)機(jī)是新一代超高解析度線掃瞄型相機(jī)，專門使用來對(duì)于太陽能電池片進(jìn)行正面瑕疵檢測(cè) 。為了能夠檢測(cè)出極精細(xì)的正面網(wǎng)印細(xì)柵線，可以搭配提供至高達(dá)14μm/pixel解析度的電池片正面瑕疵檢測(cè)功能。
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致茂 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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切割線鋸痕是由于切割時(shí)候的雜質(zhì)影響或者是切割線振動(dòng)所造成的。有時(shí)候發(fā)生在邊緣而也有可能發(fā)生在硅片中間的位置。由于致茂 Model 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī)使用EN 50513 2009的檢測(cè)手法來進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)，所以即使是發(fā)生在硅片中央位置的切割線鋸痕，也可以正確檢測(cè)無誤。
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致茂 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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致茂 Model 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī) 提供高重復(fù)性的晶格尺寸檢測(cè)結(jié)果，Chroma在7202上頭使用了* 的光學(xué)設(shè)計(jì)來強(qiáng)化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后，分類好的硅片就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝，拿來在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn)，藉以提高電池片生產(chǎn)時(shí)候的平均轉(zhuǎn)換效率。
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致茂 7201光伏硅片表面臟污檢測(cè)機(jī)

更新時(shí)間：2023-12-24

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致茂 7201光伏硅片表面臟污檢測(cè)機(jī)可用來檢測(cè)硅片長(zhǎng)度、寬度、對(duì)角線、邊緣夾角、導(dǎo)角尺寸以及導(dǎo)角角度等，同時(shí)也可以檢測(cè)表面瑕疵。設(shè)計(jì)完善的軟體以及操作介面可供使用者設(shè)定不同的檢測(cè)參數(shù)來達(dá)到檢測(cè)結(jié)果，同時(shí)也提供瑕疵顯示以及儲(chǔ)存功能來留待日后進(jìn)行MES/CIM的分析以及整合。
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