Chroma 3270 微型IC測試分類機(jī)

簡要描述：Chroma 3270 微型IC測試分類機(jī)特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件（CIS : CMOS Image Sensor）量產(chǎn)所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動(dòng)到測試位置，然后將測試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。

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廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-12-24
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整合式（Turnkey）量測與自動(dòng)化解決方案

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Chroma 3270 微型IC測試分類機(jī)特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動(dòng)到測試位置，然后將測試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。

Chroma 3270 能同時(shí)處理32個(gè)待測物進(jìn)行平行測試，并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量，提升生產(chǎn)良率，同時(shí)大幅降低測試成本。

Chroma 3270 微型IC測試分類機(jī)的特色：

適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī)
3x3 mm 微型 IC 處理能力
浮動(dòng)頭可有效率平衡測試壓力
自動(dòng)測試壓力學(xué)習(xí)
IC 殘留檢測功能

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