Chroma  58131 OLED壽命周期測試系統(tǒng)

本系統(tǒng)以開放式的PXI架構(gòu)為硬體基礎(chǔ)，可任意擴(kuò)充測試組數(shù)，PXI系統(tǒng)具有先進(jìn)的 "Hot plug ＆ play"功能，即當(dāng)測試中的某一待測物發(fā)生短路或故障時(shí)，僅需移除發(fā)生故障之待測物，不影響其他測試中之待測物，系統(tǒng)仍可持續(xù)測試，可大量提升測試效能。

人性化的軟體介面，可自行設(shè)計(jì)電源輸出模式、電源參數(shù)值、量測時(shí)間、亮度校正等項(xiàng)目，并有曲線繪圖、資料表顯示及儲存，讓您可輕松分析測試報(bào)告。另外，測試治具的設(shè)計(jì)，便利的19吋機(jī)架，可隨意移動測試環(huán)境，精密輕巧的測試盒，可輕松替換待測物，電腦主機(jī)及熒幕組裝于機(jī)架上，以隨時(shí)了解測試狀況，18個(gè)插槽的PXI機(jī)箱，可同時(shí)檢測34組待測物，讓你擁有體積小，待測模組多的超迷你測試系統(tǒng)。

Chroma  58131 OLED壽命周期測試系統(tǒng)的特色：

獨(dú)立且精密的量測方式(PMU)

• 提供高精確度的電壓及電流
• 高精確度的量測能力
• 單一待測物故障自我控制，不影響其他測試中的待測物

測試功能

• 電氣特性量測
• 亮度量測
• 自行設(shè)計(jì)輸出模式(正負(fù)電壓及電流)

自動測試及資料載入

• PXI機(jī)箱含嵌入式控制器
• OLED測試卡 (一張PXI卡可測試兩個(gè)OLED面板)
• 每個(gè)系統(tǒng)大可提供34組待測物

選購配備

• 頻譜分析量測光學(xué)特性
• Turnkey 測試解決方案
• 客制化的測試治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
• 部分機(jī)架可置入滑動抽屜(每個(gè)抽屜有四組治具)